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X荧光光谱仪采用的三大定律介绍
发布时间:2019-09-05   点击次数:59次
   X荧光光谱仪采用的三大定律介绍
  X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。
  X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性,所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。
  X荧光光谱仪能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢?
  1、莫塞莱定律
  莫塞莱定律是反应各个元素X射线特征光谱规律的一种实验定律,依靠莫塞莱定律进行分析的方式也是可靠的方法之一。X荧光光谱仪在对材料进行分析时也会使用到这一定律,在分析时光谱仪能够对内层电子的跃迁产生的、表明X射线特征的光谱和原子序数一一对应起来,从而获得分析结果。
  2、布拉格定律
  该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律,同时,布拉格定律是光谱仪所使用的分光原理,在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低仪器检出限。
  3、比尔-朗伯定律
  比尔-朗伯定律是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时,样品可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要将混合的X射线按波长分开,分别测量不同波长的X射线强度,以进行定性和定量分析。
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