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X荧光镀银测厚仪

简要描述:

高精密的X荧光镀银测厚仪对于一个电镀企业测厚来说尤为重要,银属于贵金属元素,不合格的产品(镀薄或镀厚)造成的损失不可估计,能够测试产品镀层厚度,能够大大降低企业的成本,同时提高公司在检测方面的实力。

技术指标

型号:Thick 800A
产品名称:X荧光镀银测厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

X荧光镀银测厚仪应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等,广泛应用于电子电器、五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等,售后服务方便,维护成本低。

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